Als Senior Ingenieur Wafertest EWS Testchips (w/m/div) sind Sie verantwortlich für das Bereitstellen von Test- und Charakterisierungslösungen für SRAM und andere Testchips zum schnellen Technologie-Transfer sowie für eine zügige Zuverlässigskeits-, Qualitäts- und Ausbeuteoptimierung.
Im Rahmen der Transfer- und Entwicklungsprojekte steuern Sie die Entwicklung oder den Transfer von Wafertest-Programmen für Testchips und Teststrukturen von der Testentwicklung in die Dresden Fab, bereiten deren Einsatz im Labor oder die Übergabe an die Produktion vor und verantworten deren Inhalt.
Bei Bedarf erstellen oder modifizieren Sie selbst Testprogramme zur Technologie- und Zuverlässigkeitscharakterisierung.
Ausgehend von Ergebnissen der Datenanalysen charakterisieren Sie Testausfälle elektrisch bezüglich ihrer Ursache in den Testbedingungen, der Technologie oder dem Schaltungsdesign und bringen Ihre Ergebnisse und Expertise aktiv in die Arbeit der Projektteams ein.
Basierend auf Ihren Analysen finden Sie geeignete Testbedingungen für die Fehlerlokalisierung oder treiben gemeinsam mit den jeweiligen Fachabteilungen die Optimierung der Technologie, des Testprogramms oder des Designs voran.
Mit Ihrer Expertise sind Sie die Ansprechperson für die Serienfertigung bei Projekten zu Zuverlässigskeits-, Qualitäts- und Ausbeuteoptimierung sowie bei komplexen Fragestellungen zu Testprogrammen und Testhardware.
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